MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列 MICROTEST/益和匝間短路測試儀 7750系列檢測技術(shù)采用方式為『非破壞性、高速脈沖電壓與阻尼振蕩波形比對(duì)』施加脈沖電壓于繞組線圈的兩端,在不破壞被測物的條件下,透過L/C諧振產(chǎn)生阻尼衰減振蕩波形,進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)品與被測物比對(duì)兩者間的瞬間波形,在產(chǎn)品壽命性質(zhì)量下提前檢出層間短路、內(nèi)部線圈或磁芯絕緣瑕疵的不良品。
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更新日期
2024-11-20 - 02
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商 - 03
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