天瑞EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀 天瑞EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀是一款全新上照式多功能自動微區(qū)X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統(tǒng)、雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng),可多點(diǎn)位編程測試,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量。
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更新日期
2024-11-22 - 02
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商 - 03
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