天瑞EDX-T X射線熒光鍍層測厚儀 天瑞EDX-T X射線熒光鍍層測厚儀該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測試部位的細節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進行快速對焦精準(zhǔn)分析。能更好地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。
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更新日期
2024-11-22 - 02
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商 - 03
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